當系統的基本組成部分(如被控對象、測量元件、功率放大元件、執行元件等)一經確定,便可按照反饋原理將之聯接起來,形成一個基本的控制系統。然而,該系統通常比較粗糙,其性能難達到所需要求。故須在系統原有的結構基礎上附加環節,用以改善系統性能。此附加的環節稱為校正裝置

1、任務:在不改變系統基本部分的情況下,選擇適合的校正裝置並確定其參數以使得系統滿足性能要求。

開環頻率特性 G_k(jw) 的低頻段表徵了閉環系統的穩態性能;中頻段表徵了閉環系統的動態性能;高頻段表徵了閉環系統的複雜性和雜訊抑制性能。因此,設計:低頻段增益足夠大,以保證穩態誤差要求;中頻段斜率為-20dB/dec並佔據較寬的頻帶,保證適當的相角裕度;高頻段增益儘快減小,以削弱雜訊影響。

2、串聯校正裝置分類:

①按特性分:無源校正裝置與有源校正裝置;

②按相移分:(無相移、相位超前、相位滯後、相位滯後-超前)校正裝置;

3、無源相位超前校正裝置

輸入信號源的內阻為0,且輸出端的負載阻抗為無窮大

i=i_{R_1}+i_c,i=U_0/R_2,i_{R_1}=(U_i-U_0)/R_1,i_c=Cd(U_i-U_0)/dt

(1/R_1+1/R_2+Cs)U_0=(1/R_1+Cs)U_i

超前裝置的傳遞函數 G_c(s)=alphafrac{Ts+1}{alpha Ts+1},分度係數 alpha=frac{R_2}{R_1+R_2}(<1),時間常數 T=R_1C 其零點 (s=-frac{1}{T})較極點(s=-frac{1}{alpha T})更近原點,故又稱微分校正裝置。

①當無源超前校正裝置串聯時,α使得系統開環增益下降α倍,導致穩態誤差變大,因此為使系統校正前後放大係數保持不變,需要提高放大器的放大係數來補償;

②當系統校正前後放大係數實現完全補償後,則 ar G_c(s)=frac{Ts+1}{alpha Ts+1};③ ar G_c(s) 幅頻特性:在1/T~1/αT之間, L_c(w) 曲線的斜率增加 +20dB/dec,即在[1/T~1/αT]範圍內具有明顯的微分作用;④ ar G_c(s) 相頻特性: varphi_c(w)>0,forall win[0,infty],故輸出信號的相角總是超前輸入信號相角,其最大超前相角:令 dot φ_{c}(w)(=arctanTw-arctan(αTw))=0w_{m}=sqrt{frac{1}{αT}frac{1}{T}}=frac{1}{Tsqrt{a}}varphi_m=varphi_c(w_m)=arcsin frac{1-α}{1+α} , α=frac{1-sinφ_{m}}{1+sinφ_{m}}
在頻率wm處,具有最大超前角φm,且wm正好在兩個轉折頻率1/T和1/αT的幾何中點(注意幾何中點是針對在對數坐標紙上說的);α越小,超前裝置的微分作用越強,超前角φm越大,其副作用干擾也增大,故一般要求不小於0.05.
  • 無源超前裝置的設計步驟

①根據穩態誤差要求,確定開環增益K;

②利用已確定的開環增益,計算未校正系統的相角裕度;

③根據性能指標要求,計算超前裝置參數α和T (當對截止頻率wc要求時,令最大超前相角頻率等於要求的系統截止頻率,即wm=wc,有L(wc)=Lc(wm)=-10lgα ,從而求出α值,並且通過T= frac{1}{w_{m}sqrt{α}} 確定T;當對相角裕度γ要求時,通過下式求得φm=γ-γ(wc)+△

其中φm是利用超前校正網路產生的最大超前相角,γ是系統要求的相角裕度,γ(wc)是未校正系統在wc處的相角裕度,△是考慮到校正裝置會使剪切頻率的位置後移而附加的相角域量,即是為了讓系統最後的裕度多一些,一般取5°~12°);④最後寫出超前校正裝置的傳遞函數 G_c(s)=alphafrac{Ts+1}{alpha Ts+1}
  • 串聯超前校正裝置優缺點:

優點:校正後系統的截止頻率比校正前大,系統的快速性能得到提高(wc提高了,對應的時間減小了);

缺點:採用無源網路作為校正器會產生增益損失,現在已經被有源校正所替代。

4、無源相位滯後校正裝置

超前裝置的傳遞函數 G_c(s)=frac{alpha Ts+1}{Ts+1}alpha=frac{R_2}{R_1+R_2}(<1)T=(R_1+R_2)C

其極點(s=-frac{1}{ T})較零點 (s=-frac{1}{alpha T})更近原點,故又稱積分校正裝置。

G_c(s) 幅頻特性:在1/T~1/αT之間, L_c(w) 曲線的斜率減少-20dB/dec,即在[1/T~1/αT]範圍內具有明顯的積分作用;

G_c(s) 相頻特性: varphi_c(w)<0,forall win[0,infty],故輸出信號的相角總是滯後輸入信號相角,其最大滯後相角:令 dot φ_{c}(w)(=arctan(αTw)-arctanTw)=0w_{m}=sqrt{frac{1}{αT}frac{1}{T}}=frac{1}{Tsqrt{a}}varphi_m=varphi_c(w_m)=arcsin frac{1-α}{1+α} , α=frac{1-sinφ_{m}}{1+sinφ_{m}}
在頻率wm處,具有最大滯后角φm,且wm正好在兩個轉折頻率1/T和1/αT的幾何中點;α越小,超前裝置的積分作用越強,滯后角φm越大。

採用無源滯後裝置進行串聯校正時,主要是利用其高頻幅值衰減的特性,來降低系統的開環截止頻率,從而提高系統的相角裕度。因此,不能夠讓wc發生在wm,如果發生在wm,會使得原系統的相角裕度更加小。在選擇滯後裝置參數時,要使裝置的交接頻率1/αT遠小於wc。

一般取 frac{1}{alpha T}=frac{w_{c}}{10} (式子中的10可以選擇10~15都可以)
  • 無源滯後裝置的設計步驟:

①根據ess要求,確定K;

②利用已確定的K ,計算未校正系統的γ等;③根據提出γ的要求,求出wc【根據γ=γ(wc)+φc(wc)來求出wc】;④求α,T【用 20lgα+L(wc)=0來求α,接著用frac{1}{alpha T}=frac{w_{c}}{10}求出T,可得校正裝置的傳遞函數。

串聯滯後校正的特點:

①串聯滯後校正網路,本質上是一種低通濾波器;

②低頻信號放大,降低ess,提高了穩態性能;③高頻信號衰減,使帶寬變窄,降低了系統反應能力;但帶寬變窄,增強抑制擾動信號的能力

超前與滯後校正的比較:

①超前校正利用相角超前特性,滯後校正利用高頻幅值衰減特性;

②為滿足穩態性能,當採用無源校正網路時,超前校正要求附加增益,滯後校正則不需要;

③同一系統,超前校正的帶寬大於採用滯後校正;從響應速度的角度看,帶寬越大越好;但帶寬大則易受雜訊干擾,如果系統輸入端雜訊電平較高,不宜選用超前校正;④滯後校正有時會使時間常數T太大而不能實現。這是由於在足夠小的頻率值上安置滯後網路第一個交接頻率。如果出現這種情況,可採用串聯滯後-超前校正

5、PID(Proportional-Integral-Derivative)控制: G_c(s)=K_p+frac{K_i}{s}+K_ds

  • 比例(P)控制: G_c(s)=K_p

比例控制器是增益可調的放大器:增大Kp,會使原來的曲線向上移動(如上圖),從而導致ess減小(因Kp位於誤差ess的分母),wc增大,ts縮短,穩定程度變差(裕度變小),甚至造成閉環不穩定。因此原系統穩定裕度充分大時才用比例控制。

  • 比例積分(PI)控制: G_c(s)=K_p+frac{K_i}{s}=K_p(1+frac{1}{Ts}),T=frac{K_p}{K_i}

轉折頻率w_{1}=frac{1}{T},L_c(w)=20lgK_p+20lgsqrt{1+T^2w^2}-20lgTw, varphi_c(w)=arctan 	au w-90^circ 特點 調節T 影響積分控制;調節Kp影響比例和積分部分 存在積分環節,PI控制器有記憶功能 一個積分環節→提高系統的穩態精度(系統型別提高) 一個開環零點彌補積分環節對系統穩定性的不利影響) Kp=1時

特點:系統型別提高穩態誤差減小,相角裕度減小穩定程度變差 Kp<1時,

特點:

  1. 型別提高,ess減小,改善系統穩態性能;
  2. 從不穩定變為穩定;
  3. wc減小,快速性變差;
  4. 引入比例作用調節積分產生的相角滯後對系統穩定性所的不利影響。
  5. φ_{c}(w)=arctanT_{i}w-90° <0,所以引入PI控制器後,相位滯後增加,因此,通過PI控制器改善系統的穩定性,必須Kp< 1,以降低穿越頻率。
  • 比例微分(PD)控制: G_c(jw)=K_p(1+	au jw)

特點:(引入微分作用改善系統的動態性能)

①轉折頻率:w_{1}=frac{1}{τ}L_c(w)=20lgK_p+20lgsqrt{1+	au^2 w^2}, varphi_c(w)=arctan 	au w

②高頻段增益上升,導致執行元件輸出飽和,降低抗干擾的能力; ③相位裕量增加,穩定性提高; ④ wc增大,ts減小,快速性提高; ⑤ Kp=1時,系統穩態性能沒有變化; ⑥系統的高頻增益增大,容易引入高頻干擾。
  • PID控制規律

通常PID控制器中wi<wd(即Ti>τ) 低頻段,通過積分控制作用,改善系統的穩態性能; 頻段,通過微分控制作用, 提高系統的動態性能。

頻率法串聯校正:

校正裝置設計方法: ①分析法:用分析法設計校正裝置比較直觀,在物理上易於實現,但要求設計者有一定的工程設計經驗,設計過程中帶有試探性,目前工程技術界多用分析法進行設計 ②綜合法:從閉環系統的性能與開環系統性能密切相關這一概念出發,根據規定的性能指標要求確定系統期望的開環對數頻率特性形狀,然後與系統原有開環對數頻率特性相比較,從而確定校正方式、校正裝置的形式和形狀 但希望的校正裝置傳遞函數可能比較複雜,物理上難以實現 這兩種方法僅適用於最小相位系統


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