這篇文章來自我以前的師兄和同事,他們開發了一種新的電化學測試方法,來降低測試過程中歐姆降的影響。
在電化學測試手段相對完善的今天,這無疑是有難能可貴的,所以想跟大家介紹一下。
下面的內容首發在公號【材料人】,略有修改。
引言
贗電容電容器是具有高能量密度的電容器,具有廣泛的應用前景。
在贗電容材料中,容量貢獻一般可分為表面過程式控制制(capacitive)和內部過程式控制制(diffusion-controlled)兩種。
Conway等人提出通過計算循環伏安法測試中的峯值電流i和掃速v的關係來分析上述兩種控制機理在總容量中的貢獻。
表面過程式控制制下的電流分量和掃速v成線性關係,而內部過程式控制制下電流分量與v的1/2冪成正比關係。
Dunn等人在Conway工作的基礎上提出在每個電位下,通過計算
中的k1,k2值,進而量化出不同控制機理下的佔比。這些分析模型的數據來源是循環伏安法測試(CV)。
在實際CV測試中,諸多因素會影響到CV結果,其中影響較大的因素之一是歐姆降,尤其是在高掃速的實驗條件下。受歐姆降較大影響的CV數據不能準確的反應材料的實際電化學行為,這也就限制了Dunn方法的使用。
本文選取了一種常見的贗電容材料Ti3C2Tx MXene,使用多步計時電流法 (multiple potential step chronoamperometry, MUSCA),顯著減小了歐姆降對CV的影響,進而使用Dunn模型來分析了Ti3C2Tx在水系電解液中的贗電容行為。
這份工作來自圖盧茲第三大學Patrice Simon教授和四川大學林紫鋒研究員,論文第一作者是邵輝博士。
成果簡介
使用MUSCA方法對Ti3C2Tx MXene在水系電解液中的贗電容行為進行了研究和討論。