憑藉早期RTL測試集成、汽車功能安全和高帶寬測試，重新界定人們對測試的預期

　　加州山景城2019年4月3日 --

　　重點：

　　全面RTL DFT流程，加上新思科技Fusion Design Platform，確保最快上市時間與最佳設計功耗、性能與面積

　　先進的汽車功能安全支持包括軟錯誤分析和X-tolerant邏輯BIST，以符合ISO 26262標準要求

　　通過功能用途高速接口進行的測試帶來了前所未有的測試帶寬與便攜性

　　新思科技，（Synopsys, Inc.，納斯達克股票市場代碼：SNPS）近日宣佈TestMAX系列產品上市，其創新的測試與診斷功能適用於半導體器件的所有數字、存儲和模擬部分。新思科技TestMAX系列包括用於汽車測試和功能安全的獨特功能以及技術，利用許多設計中常見的高速接口，實現全新級別的測試帶寬和效率。功能強大、可高度配置的測試自動化流程提供新思科技TestMAX所有功能的無縫集成。全面RTL集成支持複雜DFT邏輯的早期驗證，並且與新思科技Fusion Design Platform的直接鏈接保證了對物理、時序和功耗的關注。這些新功能，加上早期可測試性分析與規劃、層次化ATPG壓縮、物理感知診斷、BIST、存儲自測試與修復以及模擬故障仿真等綜合支持，確保新思科技TestMAX產品系列在解決重要測試問題的同時，實現今後高要求應用的有效測試。

　　人工智能和汽車等快速發展的新應用增加了設計規模與複雜性。這些不斷髮展的細分市場需要前所未有的高質量和長期可靠性。獨特的TestMAX軟錯誤分析計算ISO 26262標準數據，從而識別與解決設計週期早期發現的潛在問題，並引導有效的設計變動。滿足強制功能安全級別的需求讓先進半導體測試的重要性與集成必要性發生了重大改變。通常一旦車輛啓動並運行，器件就必須實施自測試機制。邏輯Logic BIST通常用於檢查器件邏輯中的安全故障，但無法容忍未知的電路狀態，如那些源自設計定案後時序異常引發的情況。新思科技TestMAX推出了業界首個X-tolerant邏輯BIST解決方案，該解決方案可以在未知狀況下運作，並且與競爭對手的邏輯BIST解決方案相比，創新的reseeding技術在更短的時間裏顯著提升了故障覆蓋率。新思科技 TestMAX提供了片上基礎架構，用於車輛啓動或運行期間定期運行X-tolerant邏輯BIST。

　　三星電子代工廠設計技術團隊副總裁JY Choi表示：“我們客戶的設計越來越多地用於汽車應用。新思科技 TestMAX X-tolerant邏輯BIST解決方案讓我們的客戶能夠在最不影響設計的情況下，實現他們宏偉的測試時間和覆蓋率自測試目標。”

　　隨着設計規模不斷增長，管理製造測試時間已經越發困難。由於測試探針和相關時鐘頻率的有限增長，測試應用帶寬通常不升級。新思科技TestMAX利用高速功能接口，例如當今大部分器件上存在的USB和PCI Express，帶來了突破性的解決方案。新思科技TestMAX通過這些功能接口中的一個或多個，能夠應用到所有的製造測試上，因此帶來幾乎不受限制的測試帶寬，並且減少（如果無法消除）專有測試探針的開支。由於使用了功能接口，所有的測試變得完全便攜式，可以用於產品生命週期中的各個階段。

　　新思科技測試自動化營銷高級總監Steve Pateras表示：“由於多項技術與市場趨勢帶來的綜合影響，我們的客戶正面臨新的測試挑戰。通過新思科技TestMAX系列產品實現的創新已經爲許多設計公司帶來關鍵優勢。我們致力於確保我們的解決方案繼續不斷改善，以滿足他們的未來需求。”

　　新思科技TestMAX系列產品今日開始對外銷售。請訪問了解詳情，或聯繫您的新思科技銷售代表。

　　新思科技簡介

　　新思科技（納斯達克股票代碼：SNPS）是衆多創新型公司的 Silicon to Software（“芯片到軟件”）合作伙伴，這些公司致力於開發我們日常所依賴的電子產品和軟件應用。作爲全球第 13大軟件公司，新思科技長期以來一直是電子設計自動化（EDA）和半導體IP領域的全球領導者，並且在軟件安全和質量解決方案方面也發揮着越來越大的領導作用。無論您是創建高級半導體的片上系統（SoC）設計人員，還是編寫需要最高安全性和質量的應用程序的軟件開發人員，新思科技都能夠提供您所需要的解決方案，幫助您推出創新性的、高質量的、安全的產品。有關更多信息，請訪問

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　　James Watts

　　Synopsys, Inc.

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