課本上說，對於二軸晶寶石來說，兩個陰影邊界各自移動，在一個刻面上不能同時獲得寶石最高與最低的折射率值。但是做的一個判斷題：折射儀不可能在一個刻面上測到二軸晶寶石的最大雙折射率，答案是錯誤。

去複習下光率體這一章

重點：觀測時，寶石≠薄片≠光率體。

但光率體都是相同的

如果觀察折射率時

通常選檯面或者弧面（當然一般不觀測弧面切割寶石）

光軸與晶體生長習性有關

可先在顯微鏡下觀察生長紋

以及偏光鏡下觀測光軸

再用折射儀測量

畢竟珠寶鑒定的準則是 非暴力性檢測

總不能把石頭切薄片一片片的看吧

理論上是要求測三個面。

你懷疑這個課本比較水。

建議查看《系統寶石學》折射儀的章節。（順便吐槽第三版怎麼還在跳票）

【重點】

1、去感受光率體，畫一下。

2、只有兩個面方向能找出np nm

3、注意二軸晶測試刻面是否與某個震動方向保持一致

可以的，這種時候轉動寶石，折射率是以相反的方向變化，到了最大距離就會再次改變方向。

當兩個折射率距離最大的時候就是雙摺最大的時候。

理論上可以。實際工作並不能。哪那麼巧……

折射儀可以測出雙折射率。

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