在剛剛結束的MWC2019展會上，如果說哪一個話題最受關注，毫無疑問就是5G。隨着商用進程的深化，5G將推動物聯網、雲計算、大視頻、大數據及AI等關聯領域裂變式發展。對於從業人員而言，5G已經成爲“必修課”！

2019年4月1日至3日，電子設計創新大會（EDI CON CHINA）將在北京國家會議中心（CNCC）舉辦。爲期3天的會議，涵括5G/先進通信、電源完整性、仿真與建模、測試與測量、毫米波、放大器設計、低功耗/物聯網、前端設計、射頻/微波設計和信號完整性等主題。

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其中，第一天會議以5G爲主題，SteveSandler，世界領先的電源完整性專家、Picotest創始人兼CTO；Kailash Narayanan，是德科技全球副總裁；Alexander Pabst，羅德與施瓦茨副總裁等多外重量級嘉賓也將出席本次會議。

行業大牛現場分享

Steve Sandler, Founder and CTO,Picotest

演講主題：“射頻、微波和高速電路中的功率相關因素”

演講概要：作爲工程師，我們的任務是爲我們的射頻、微波和高速數字電路實現最佳性能。然而，我們經常設計、仿真和測量性能，而不考慮電源對這些電路的影響。考慮電源影響意味着什麼呢？本演講着眼於電源對射頻、微波和高速數字系統的多種影響，解釋了我最喜歡的仿真、測量和排除這些複雜問題的技術之一。

Kailash Narayanan, Global VP of KeysightWireless Device Organization

演講主題：“用於網絡設備製造、芯片組和設備的5G測試和測量技術”

演講概要：隨着3GPP第15版的發佈，無線通信行業已開始大規模生產5G設備、器件並開始初期的部署。本演講將探討未來的主要市場趨勢和挑戰，並概述測試和測量解決方案。

Alexander Pabst, Vice PresidentSystems and Projects, Rohde & Schwarz

演講主題：“5G新無線電測試和測量挑戰以及應對方法”

演講概要：本演講將討論5G NR OTA挑戰，並概述輻射測試環境的解決方案，以優化技術的可行性、測試次數/週期和投資/維護需求。將討論不同的幾何形狀和外形因素、頻率範圍和環境條件，以反映3GPP、CTIA、ETSI等相關標準化組織的最新進展。

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